F54-XY-200

自动薄膜厚度测绘

F54-XY-200高级光谱反射系统可以快速简易的进行薄膜镀层的厚度测绘,样品适用尺寸最大达到200mm x 200mm.。电动X-Y载物台自动移动到指定的测量位置,以每秒钟两点的速度进行厚度测量。

从数十种预设的极坐标、矩形或线性测绘方案中选择一种,或创建您自己的方案,系统没有测量点数目的限制。

台式仪器通过USB端口与您的Windows®计算机连接,仅需几分钟内就可以完成设置,而且操作介面简易,任何具有基本电脑技能的人都可以使用。

不同型号之间的主要区别在于测量厚度和波长范围。通常,测量较薄的薄膜需要较短的波长(例如F54-XY-200-UV),而较长的波长则适于测量较厚、较粗糙和更不透明的薄膜。

包含的内容:

  • 集成光谱仪/光源装置
  • FILMapper 测量软件
  • SiO2厚度标准
  • 集成式硅反射标准
  • 真空泵
  • 备用 TH-1 灯泡

型号规格

*取决于薄膜种类
型号 厚度范围* 波长范围
F54-XY-200 20nm-45µm 380-1050nm
F54-XY-200-UV 4nm-35µm 190-1100nm
F54-XY-200-NIR 100nm-115µm 950-1700nm
F54-XY-200-EXR 20nm-115µm 380-1700nm
F54-XY-200-UVX 4nm-115µm 190-1700nm
厚度范围*

独特的优点

  • 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种
  • 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)
  • 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)
  • 硬件升级计划

常见的选购配件: