F40-UV

测量只有4纳米的薄膜

F40-UV 测量薄至4纳米,小到7微米的光斑。

F40-UV配备紫外显微镜和集成彩色摄像机,能对测量点进行准确监控,并在 1 秒钟内测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样,F40-UV 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。

包含的内容:

型号规格

型号 厚度范围* 波长范围
F40-UV 4nm-40µm 190-1100nm
F40-UVX 4nm-40µm 190-1700nm

额外的好处:

  • 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种
  • 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)
  • 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)
  • 硬件升级计划