F54-XY-200

自动薄膜厚度测绘

F54-XY-200高级光谱反射系统可以快速简易的进行薄膜镀层的厚度测绘,样品适用尺寸最大达到200mm x 200mm.。电动X-Y载物台自动移动到指定的测量位置，以每秒钟两点的速度进行厚度测量。

从数十种预设的极坐标、矩形或线性测绘方案中选择一种，或创建您自己的方案，系统没有测量点数目的限制。

台式仪器通过USB端口与您的Windows®计算机连接，仅需几分钟内就可以完成设置，而且操作介面简易，任何具有基本电脑技能的人都可以使用。

不同型号之间的主要区别在于测量厚度和波长范围。通常，测量较薄的薄膜需要较短的波长（例如F54-XY-200-UV），而较长的波长则适于测量较厚、较粗糙和更不透明的薄膜。